Mikroskopi elektron transmisi nanopartikel (TEM) adalah teknik mikroskop penting yang banyak digunakan untuk mengamati dan mengkarakterisasi struktur dan morfologi partikel dan bahan berskala nano.
TEM menggunakan berkas elektron berenergi tinggi untuk mengamati detail mikroskopis sampel melalui irisan tipis. Dalam TEM, berkas elektron difokuskan melalui sistem lensa dan kemudian melewati sampel, berinteraksi dengan atom atau molekul dalam sampel. Dengan mengumpulkan informasi tentang berkas elektron yang ditransmisikan, gambar resolusi tinggi dan pola difraksi sampel dapat diperoleh, sehingga mengungkap struktur dan komposisi internalnya.
Berikut ini adalah langkah-langkah umum penggunaan TEM untuk menguji sampel:
1. Persiapan sampel: Pertama, sampel yang akan diuji perlu disiapkan menjadi irisan sampel yang cukup tipis. Metode persiapan yang umum meliputi pemotongan mekanis, penggilingan ion, pengendapan sentrifugal, dan pemotongan berkas ion terfokus (FIB).
2. Pemuatan sampel: Tempatkan irisan sampel yang telah disiapkan pada wadah sampel TEM dan pastikan fiksasi dan stabilitasnya.
3. Pengaturan instrumen: Mengatur parameter seperti tegangan akselerasi, pemfokusan, dan fungsi penyelarasan yang diperlukan untuk TEM. Biasanya, penting untuk memilih pengaturan dan mode lensa yang sesuai untuk memperoleh informasi gambar yang diperlukan.
4. Pengamatan dan penyesuaian: Masukkan tempat sampel ke dalam instrumen TEM dan amati sampel menggunakan lensa mata atau mikroskop. Dengan pembesaran yang sesuai, amati apakah morfologi dan struktur sampel memenuhi persyaratan, lalu sesuaikan dan optimalkan sesuai kebutuhan.
5. Image capture: Select appropriate lens settings and exposure time to capture high-resolution images of the sample through the TEM system. Images from different regions and angles can be collected to obtain more comprehensive information.
6. Analisis data: Menganalisis dan menafsirkan gambar TEM, termasuk mengukur ukuran partikel, morfologi permukaan, struktur kristal, dll. Analisis spektrum energi yang sesuai dan analisis pola difraksi juga dapat dilakukan untuk memperoleh informasi tentang komposisi unsur dan struktur kristal.
TEM adalah teknik mikroskop resolusi tinggi yang biasa digunakan untuk mempelajari partikel nano, bahan nano, struktur nano, dan banyak lagi. Hal ini dapat memberikan observasi dan analisis rinci pada skala nano, memainkan peran penting dalam memahami sifat struktural bahan, morfologi dan komposisi partikel nano, dan studi fenomena skala nano.
