Nanopartikel banyak digunakan di berbagai bidang seperti pengiriman obat, pencitraan, dan ilmu material. Pelapisan pada permukaan nanopartikel dapat mempengaruhi sifat dan kinerjanya. Oleh karena itu, penting untuk mengukur ketebalan lapisan untuk memahami pengaruhnya terhadap nanopartikel. Dalam postingan blog ini, kami akan memperkenalkan beberapa metode untuk mengukur ketebalan lapisan pada nanopartikel.
1. Mikroskop Elektron Transmisi (TEM)
TEM adalah teknik pencitraan canggih yang dapat memberikan gambar nanopartikel beresolusi tinggi. Hal ini juga dapat digunakan untuk mengukur ketebalan lapisan pada nanopartikel. TEM bekerja dengan melewatkan seberkas elektron melalui sampel, dan interaksi antara elektron dan sampel dapat digunakan untuk membuat gambar. Dengan menggunakan TEM, kontras antara pelapis dan nanopartikel dapat digunakan untuk mengukur ketebalan pelapis.
2. Mikroskop Kekuatan Atom (AFM)
AFM adalah teknik pencitraan lain yang dapat digunakan untuk mengukur ketebalan lapisan nanopartikel. Ia bekerja dengan memindai permukaan sampel dengan probe kecil. Probe dapat mengukur tinggi sampel dengan presisi tinggi, yang dapat digunakan untuk menghitung ketebalan lapisan pada nanopartikel. AFM dapat memberikan gambar beresolusi tinggi dan cocok untuk mengukur ketebalan lapisan pada nanopartikel tunggal.
3. Spektroskopi Ultraviolet-Visible (UV-Vis).
Spektroskopi UV-Vis merupakan teknik yang dapat digunakan untuk mengukur ketebalan lapisan pada sejumlah besar nanopartikel secara bersamaan. Ia bekerja dengan mengukur spektrum serapan nanopartikel dalam larutan. Pelapisan pada nanopartikel dapat mempengaruhi spektrum serapan, dan ketebalan pelapis dapat dihitung berdasarkan derajat pergeseran spektral. Spektroskopi UV-Vis adalah metode yang cepat dan sederhana untuk mengukur ketebalan lapisan nanopartikel.
4. Keseimbangan Mikro Kristal Kuarsa (QCM)
QCM adalah teknik yang sangat sensitif yang dapat digunakan untuk mengukur massa nanopartikel. Dengan mengukur perubahan massa nanopartikel dengan dan tanpa pelapis, ketebalan pelapis dapat dihitung. QCM dapat memberikan pemantauan ketebalan lapisan secara real-time dan cocok untuk mempelajari stabilitas dan kinetika lapisan pada nanopartikel.
Kesimpulannya, terdapat beberapa metode untuk mengukur ketebalan lapisan pada nanopartikel, masing-masing dengan kelebihan dan keterbatasannya. Pilihan metode tergantung pada kebutuhan spesifik aplikasi. Dengan memahami ketebalan lapisan pada nanopartikel, kita dapat merancang dan mengoptimalkan sifat dan fungsinya untuk berbagai aplikasi.
