Mikroskop elektron transmisi (TEM)adalah alat penelitian yang sangat diperlukan di bidang -bidang seperti ilmu material dan nanoteknologi. Bagi para peneliti yang baru mengenal TEM, memahami prinsip -prinsip dasar dan operasinya sangat penting untuk pemanfaatan peralatan ini secara efisien. Pengujian TEM terutama berfokus pada karakteristik struktur mikro bahan, termasuk distribusi elemen, komposisi fase, cacat kristal, dll. Karakteristik ini dimanifestasikan pada tingkat mikroskopis sebagai ukuran, bentuk, distribusi butiran fase yang berbeda, serta kepadatan dan distribusi cacat kristal. Melalui TEM, para peneliti dapat memperoleh pemahaman yang lebih dalam tentang struktur material internal, sehingga mengevaluasi sifat dan aplikasi potensial mereka.
Dibandingkan dengan instrumen analitik lain seperti spektrometer, difraktometer sinar-X, dll., Keuntungan terbesar dari TEM adalah resolusi spasialnya yang sangat tinggi. TEM tidak hanya dapat mendeteksi komposisi unsur bahan, tetapi juga menganalisis struktur kristal pada tingkat atom, mencapai pengamatan in-situ. Kemampuan ini menjadikan Tem sebagai alat yang tak tergantikan dalam penelitian skala nano. Sebagai lembaga pengujian dan analisis pihak ketiga yang menyediakan pengujian, identifikasi, sertifikasi, dan layanan penelitian dan pengembangan, laboratorium Jinjian tidak hanya memiliki tim teknis profesional, tetapi juga dilengkapi dengan peralatan pengujian canggih untuk memberi Anda layanan pengujian TEM yang akurat.
Alasan mengapa TEM dapat mencapai tingkat atom resolusi tinggi adalah karena menggunakan balok elektron berkecepatan tinggi dengan panjang gelombang yang sangat pendek sebagai sumber iluminasi. Resolusi mikroskop optik biasa dibatasi oleh panjang gelombang sinar iluminasi, sedangkan panjang gelombang balok elektron jauh lebih pendek daripada cahaya yang terlihat, sehingga resolusi TEM jauh lebih tinggi daripada mikroskop tradisional. Selain itu, dualitas partikel gelombang dari balok elektron memungkinkan TEM untuk mencapai pencitraan material tingkat atom.
Dasarnyastruktur dan fungsi TEM
Struktur dasar TEM mencakup komponen -komponen utama seperti senjata elektron, kondensor, tahap sampel, lensa objektif, cermin perantara, dan cermin proyeksi. Gun elektron menghasilkan balok elektron berkecepatan tinggi, yang difokuskan oleh lensa kondensor. Tahap sampel membawa dan secara tepat memposisikan sampel, dan lensa objektif dan cermin perantara semakin memperbesar gambar sampel. Mirror proyeksi memproyeksikan gambar yang diperbesar ke layar atau detektor neon. Pekerjaan kolaboratif dari komponen -komponen ini memungkinkan TEM untuk mencapai pencitraan pembesaran tinggi dan analisis sampel.
TEM terutama memiliki tiga mode kerja: mode pencitraan pembesaran, mode difraksi elektron, dan pemindaian mode transmisi (STEM). Dalam mode pencitraan pembesaran, TEM mirip dengan mikroskop optik tradisional untuk mendapatkan gambar morfologi sampel; Dalam mode difraksi elektron, TEM menangkap pola difraksi sampel, yang mencerminkan struktur kristalnya; Dalam mode STEM, TEM memindai poin sampel dengan memfokuskan balok elektron, dan mengumpulkan sinyal dengan detektor untuk mencapai pencitraan resolusi yang lebih tinggi.
Perbedaan dalam Pencitraan TEM: Gambar Bidang Cerah, Gambar Bidang Gelap, Gambar Bidang Gelap Tengah
Gambar Bidang Cerah: Hanya memungkinkan balok yang ditransmisikan untuk melewati aperture objektif untuk pencitraan, menampilkan struktur keseluruhan sampel.
Gambar medan gelap dan gambar medan gelap pusat: Balok difraksi spesifik melewati aperture objektif, dan gambar medan gelap pusat menekankan pencitraan balok difraksi di sepanjang arah sumbu transmisi, biasanya dengan kualitas pencitraan yang lebih baik.
Penyimpangan TEM adalah faktor utama yang membatasi resolusi mikroskop elektron, termasuk penyimpangan bola, penyimpangan kromatik, dan astigmatisme. Penyimpangan bola disebabkan oleh perbedaan daya bias elektron di daerah tengah dan tepi lensa magnetik, penyimpangan kromatik disebabkan oleh dispersi energi elektron, dan astigmatisme disebabkan oleh sifat non -axisymmetric dari medan magnet. Perbedaan difraksi disebabkan oleh efek difraksi fraunhofer pada aperture.
Jenis TEM Kontras
Kontras TEM disebabkan oleh hamburan yang dihasilkan oleh interaksi antara elektron dan materi, termasuk kontras ketebalan, kontras difraksi, kontras fase, dan kontras Z. Kontras Ketebalan: Mencerminkan karakteristik permukaan dan fitur morfologis sampel, yang disebabkan oleh perbedaan jumlah atom dan ketebalan berbagai daerah mikro sampel. Kontras difraksi: Karena orientasi kristalografi yang berbeda dalam sampel, yang sesuai dengan kondisi Bragg yang berbeda, intensitas difraksi bervariasi dari satu tempat ke tempat lain. Kontras fase: Ketika sampel cukup tipis, perbedaan fase gelombang sinar elektron yang menembus sampel menghasilkan kontras, yang cocok untuk pencitraan resolusi tinggi. Z-Contras: Dalam mode batang, kecerahan gambar sebanding dengan kuadrat angka atom dan cocok untuk mengamati distribusi elemen. Dengan menguasai pengetahuan mendasar ini, pengguna TEM dapat secara lebih efektif memanfaatkan alat ini untuk analisis material struktur mikro.
Sat Nano adalah pemasok nanopartikel dan partikel mikro terbaik di Cina, kami dapat menawarkanbubuk logam, bubuk karbida, bubuk oksidaDanbubuk paduan, jika Anda memiliki pertanyaan, jangan ragu untuk menghubungi kami di sales03@satnano.com
